핫 러너 시스템의 접지 불량은 주로 접지 루프 형성, 전자기 결합 강화, 차폐 효과 저하라는 세 가지 메커니즘을 통해 신호 링크를 방해합니다. 가장 일반적인 시나리오에는 50Hz 전력-주파수 접지 루프 전류를 유도하는 다중 지점 접지가 포함됩니다. 이 전류는 열전대에서 생성된 밀리볼트{5}}레벨 신호에 직접 중첩되어 온도 컨트롤러가 실제 온도를 잘못 해석하게 만듭니다. 이러한 유형의 간섭은 교활한 성격, 특정 작동 조건에 대한 의존성, 오진 가능성이 특징입니다. 이는 불규칙한 온도 판독값의 일반적인 근본 원인입니다.
신호 링크 간섭의 세 가지 주요 경로:
1. 접지 루프는 일반적인-모드 노이즈를 발생시킵니다(주요 원인)
온도 조절기, 분전반 및 사출 성형 기계와 같은 장치가-다른 접지점에 연결되면 접지 그리드 내의 전위차로 인해 폐쇄 루프가 형성됩니다(이러한 차이가 몇 밀리볼트에 불과하더라도).
이 루프는 열전대 신호 라인의 음극 단자를 통해 흐르는 50Hz 또는 60Hz 전력{2}}주파수 전류를 유도합니다.
열전대의 출력은 희미한 밀리볼트{0}}레벨 신호(예: K형 열전대의 경우 약 40μV/도)이므로 미세한 간섭이라도 온도 판독값에 상당한 편차를 초래할 수 있습니다.
일반적인 증상: 온도 표시는 주 전원 공급 장치에 동기화된 변동 주파수와 함께 주기적인 변동을 나타냅니다.
2. 차폐 실패: 케이블이 "안테나"가 됩니다.
신호 케이블의 차폐층은 외부 전자기장을 접지로 전환하도록 설계되었습니다. 그러나 접지가 불량하거나 접지가 전혀 이루어지지 않은 경우에는 차폐 기능이 무효화됩니다.
가변 주파수 드라이브(VFD) 및 서보 모터와 같은 장치가 밀집되어 있는 환경에서는 케이블이 고주파수 전자기 노이즈(예: PWM 고조파)를 적극적으로 포착합니다.{0}}
이 잡음은 용량성 결합을 통해 온도 측정 회로로 유입되어 온도 판독값에 무작위 점프 또는 드리프트가 발생합니다.
이 문제는 이중{0}}차폐 케이블을 사용하지 않거나 차폐층이 양쪽 끝에서 동시에 접지될 때 특히 심각합니다.
3. 그라운드 바운스는 신호 무결성에 영향을 미칩니다
When ground impedance is excessively high (>1Ω), 릴레이 작동 또는 MOSFET 스위칭으로 인해 발생하는 것과 같은 큰 전류 과도 전류-는 접지선을 따라 순간적인 전압 강하를 생성합니다.
이 전압은 기준 접지에 중첩되어 여러 온도 측정 채널에 걸쳐 동시에 스파이크 간섭을 일으킵니다.
이 현상은 고속 디지털 회로가 아날로그 온도 측정 회로와 공존하는 시스템에서 특히 두드러지며, 잠재적으로 잘못된 시스템 재설정이나 샘플링 왜곡을 유발할 수 있습니다.
실용적인 팁: 오실로스코프를 사용하여 열전대 신호 파형을 캡처하십시오. 뚜렷한 사인파 또는 과도 스파이크가 DC 기준선에 겹쳐서 관찰되는 경우 일반적으로 접지 루프 또는 EMI 간섭이 원인일 수 있습니다. 접지를 기준으로 AC 전압 측정을 우선시합니다. 1V AC를 초과하는 경우 접지 시스템을 바로잡기 위해 즉시 시정 조치를 취해야 합니다.
